Москва +7 (499) 613-7001
Контакты

Москва +7 (499) 613-7001

Санкт-Петербург +7 (812) 971-5100

Екатеринбург +7 (343) 382-0692

Модель Keithley 4200-SCS

4200-SCS – новейшая система для определения характеристик полупроводниковых приборов по постоянному току и их испытаний на надежность в предельных режимах.

Цена по запросу

Добавить в спецификацию

Модель 4200-SCS удобна в использовании и позволяет экспериментально исследовать характеристики полупроводниковых приборов по постоянному току, визуализировать получаемые зависимости в реальном масштабе времени, анализировать их с высокой точностью и субфемтоамперным разрешением. Анализ характеристик возможен как в автоматическом, так и в интерактивном параметрическом режиме. 

Модель 4200-SCS представляет собой полностью интегрированный набор средств с богатейшими возможностями определения характеристик полупроводниковых приборов и включает в себя полнофункциональный встроенный персональный компьютер с операционной системой Windows XP и обширной памятью. Удобный пользовательский интерфейс обеспечивает автоматическое ведение документации и легкий доступ к функциям и параметрам путем непосредственного управления ими на экране (point-and-click interface), что ускоряет и упрощает процесс получения экспериментальных данных. Новые функции позволяют проводить испытания на надежность в предельных режимах (Stress-measure/Reliability testing).
Бесплатный Nanotech Toolkit для модели 4200-SCS – это набор программных средств, специально разработанный для разнообразных испытаний применительно к исследовательским задачам в области нанотехнологий, обеспечивающий очень точные комплексные электрические измерения. 

ВОЗМОЖНЫЕ ПРИМЕНЕНИЯ
Полупроводниковые устройства:
  • параметрические испытания подложек;
  • определение уровня надежности подложек;
  • получение характеристик корпусных элементов;
  • получение ВАХ и C-V-характеристик при помощи дополнительного внешнего модуля 590 Keithley.
Оптоэлектронные устройства:
  • получение DC/CW-характеристик полупроводниковых лазерных диодов и модулей приемопередатчиков;
  • получение PIN и APD-характеристик.
Разработка технологий:
  • получение характеристик углеродных нанотрубок (carbon nanotube);
  • исследования материалов;
  • электрохимия.
  • наличие интуитивного «point-and-click» интерфейса в среде Windows;
  • уникальные дистанционные предусилители, расширяющие разрешение SMU (питающе-измерительных элементов) до 0,1 фА (1Е-16А);
  • встроенный персональный компьютер обеспечивает высокую скорость тестирования, широкие возможности анализа данных, визуализации, печати и хранения результатов испытаний;
  • уникальный «Навигатор проектов», оформленный в виде браузера, организует испытания по типу устройств, обеспечивает управление множественными тестами, последовательностью испытаний и обратными связями;
  • интегрированная поддержка C-V-измерителей моделей 590 Keithley и 4284 Agilent, коммутационных устройств Keithley и генераторов импульсов Agilent 81110;
  • аппаратная часть контролируется при помощи Keithley Interactive Test Environment (KITE). User Test Module function расширяет возможности KITE для управления внешними инструментами в составе испытательной станции;
  • содержит программные драйверы для Cascade Microtech Summit 12K Series, моделей Karl Suss PA-200, PA-300, модели 8860 Micromanipulator и для ручных тестеров;
  • расширенная поддержка моделирования полупроводников, включая набор драйверов для моделирования IC-CAP устройств, а также поддержка программного обеспечения для моделирования Celestry Design Technologies' BSIMPro и Silvaco UTMOST.

Материала для отображения нет.

Материала для отображения нет.

Задать вопрос

 
ФИО*

Email*

Телефон*

Организация*

 
ФИО*

Email*

Телефон*

Организация*

 
ФИО*

Email*

Телефон*

Организация*

Обратная связь

Оставьте Ваши данные и мы свяжемся с Вами