4200-SCS
|
Модель 4200-SCS: новейшая система для определения характеристик полупроводниковых приборов по постоянному току
и их испытаний на надежность в предельных режимах
Основные характеристики:
- наличие интуитивного "point-and-click" интерфейса в среде Windows;
- уникальные дистанционные предусилители, расширяющие разрешение SMU (
|
|
питающе-измерительных элементов) до 0,1 фА (1Е-16А);
- встроенный персональный компьютер обеспечивает высокую скорость тестирования, широкие возможности анализа данных, визуализации, печати и хранения результатов испытаний;
- уникальный "Навигатор проектов", оформленный в виде браузера, организует испытания по типу устройств, обеспечивает управление множественными тестами, последовательностью испытаний и обратными связями;
- интегрированная поддержка C-V-измерителей моделей 590 Keithley и 4284 Agilent, коммутационных устройств Keithley и генераторов импульсов Agilent 81110;
- аппаратная часть контролируется
|
|
при помощи Keithley Interactive Test Environment (KITE). User Test Module function расширяет возможности KITE для управления внешними инструментами в составе испытательной станции;
- содержит программные драйверы для Cascade Microtech Summit 12K Series, моделей Karl Suss PA-200, PA-300, модели 8860 Micromanipulator и для ручных тестеров;
- расширенная поддержка моделирования полупроводников, включая набор драйверов для моделирования IC-CAP устройств, а также поддержка программного обеспечения для моделирования Celestry Design Technologies' BSIMPro и Silvaco UTMOST.
Бесплатный Nanotech Toolkit для модели 4200-SCS - это набор
|
|
программных средств, специально разработанный для разнообразных испытаний применительно к исследовательским задачам в области нанотехнологий, обеспечивающий очень точные комплексные электрические измерения.
Удобная в использовании модель 4200-SCS позволяет экспериментально исследовать характеристики полупроводниковых приборов по постоянному току, визуализировать получаемые зависимости в реальном масштабе времени, анализировать их с высокой точностью и субфемтоамперным разрешением. Анализ характеристик возможен как в автоматическом, так и в интерактивном параметрическом режиме. Модель 4200-SCS представляет собой полностью
|
|
интегрированный набор средств с богатейшими возможностями определения характеристик полупроводниковых приборов и включает в себя полнофункциональный встроенный персональный компьютер с операционной системой Windows XP и обширной памятью. Удобный пользовательский интерфейс обеспечивает автоматическое ведение документации и легкий доступ к функциям и параметрам путем непосредственного управления ими на экране (point-and-click interface), что ускоряет и упрощает процесс получения экспериментальных данных. Новые функции позволяют проводить испытания на надежность в предельных режимах (Stress-measure/Reliability testing).
Возможные применения:
|
|
Полупроводниковые устройства:
- параметрические испытания подложек;
- определение уровня надежности подложек;
- получение характеристик корпусных элементов;
- получение ВАХ и C-V-характеристик при помощи дополнительного внешнего модуля 590 Keithley;
Оптоэлектронные устройства:
- получение DC/CW-характеристик полупроводниковых лазерных диодов и модулей приемопередатчиков;
- получение PIN и APD-характеристик;
Разработка технологий:
- получение характеристик углеродных нанотрубок (carbon nanotube);
- исследования материалов;
- электрохимия.
|
|  |
|
